Tilastolliset menetelmät (SPC, MSA, jne

SPC – Tilastollinen Prosessin ohjaus

SPC eli Statistical Process Control tarkoittaa suomeksi tilastollista prosessin ohjausta (vanha termi tilastollinen valvonta). SPC:n alullepanija Walter A. Shewhart loi universaalin teorian, joka selittää kaikissa palvelu- ja teollisuusprosesseissa olevan vaihtelun. Vaihtelu jakautuu satunnaissyiden aikaansaamaan vaihteluun (common causes) ja erityissyiden aikaansaamaan vaihteluun (special cause, sporaidic cause). Usein puhutaan myös käsitteistä kohina, noise, kun tarkoitetaan satunnaissyyperäistä vaihtelua ja sigmaali, kun tarkoitetaan erityissyyperäistä vaihtelua. Lisäksi hän loi teorian (säännöt), kuinka vaihtelu jaetaan näihin kahteen komponenttiin. Menettelyä ja työkalua sanotaan ohjauskortiksi (vanha nimi valvontakortti).

SPC pitää sisällään kaksi päätehtävää, johon sitä käytetään laadun ohjauksessa: kertomaan milloin prosessia tulee säätää/korjata, jotta se säilyttää ennustettavuutensa sekä sen avulla voidaan analysoida ja parannetaan prosessia. Ohjauskortit ovat menetelmä, kuinka tunnistetaan nämä vaihtelun lajit prosesseista. Ohjauskortit auttavat määrittämään onko prosessi ennustettava, eli tilastollisessa ohjauksessa.

MSA – MEASUREMENT SYSTEM ANALYSIS – MITTAUSSYSTEEMIN ANALYSOINTI

Mittaussysteemin analysointi on menetelmä mittausprosessin virheen määrittämiseksi. Ymmärtääkseen mittausvirheen vaikutuksen päätöksen tekoon, tulee pystyä selvittämään, kuinka suuria ovat systemaattinen ja satunnainen virhe. Mittausvirheet jaetaan siis kahteen luokkaan variaatiovirhe ja deviaatiovirhe. Molempien virheiden selvittämiseen on olemassa omat konseptinsa, joita MSA käsittelee. Variaatiovirhe, eli mittausprosessin satunnainen vaihtelu on usein merkittävämpi ongelma prosessien parannuksessa kun taas deviaatiovirhe koskee keskiarvon poikkeamaa referenssistä. Menettely tunnetaan kalibrointina ja on tärkeä tuotetarkastuksessa ja kelpuutuksessa.

Mittausvirheen arviointi lähtee mitattavan kohteen ja siihen vaikuttavien tekijöiden ja olosuhteiden määrittelystä. Mittausvirheet tulee selvittää niissä olosuhteissa, joissa mittausprosessia käytetään. Ensimmäisenä on selvitettävä mittausprosessin stabiilisuus, johon käytetään ohjauskortteja. Variaatiovirheen määrittämiseksi käytetään Gage R&R tutkimuksia, jonka tavoitteena on selvittää mittausprosessin satunnaisvirhe e. Gage Linearity ja Bias tutkimuksia käytetään mittausprosessin systemaattisen, eli deviaatiovirheen selvittämiseksi eli on kysymys kalibrointivirheen määrityksestä.


järjestä nimen | päivityksen | hinnan | alkuperäisen järjestyksen mukaan